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基于真实核心点的密度聚类方法 期刊论文
计算机应用研究, 2018, 卷号: 35, 期号: 12, 页码: 3564-3568
Authors:  张涛;  刘昶;  周晓锋;  李帅
Adobe PDF(1147Kb)  |  Favorite  |  View/Download:208/37  |  Submit date:2017/12/21
密度聚类  模糊边界点  核心点  合并  
A new Automatic Density Cluster 会议论文
PROCEEDINGS OF 2017 IEEE 2ND INFORMATION TECHNOLOGY, NETWORKING, ELECTRONIC AND AUTOMATION CONTROL CONFERENCE (ITNEC), Chengdu, CHINA, December 15-17, 2017
Authors:  Zhang T(张涛);  Liu C(刘昶);  Zhou XF(周晓锋);  Li S(李帅)
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Density  Clusters  Merge  Automatic  Asymmetry  
Solving Traveling Salesman Problem with Hybrid Estimation of Distribution Algorithm 会议论文
2017 IEEE 7th Annual International Conference on CYBER Technology in Automation, Control, and Intelligent Systems, CYBER 2017, Hawaii, USA, July 31 - August 4, 2017
Authors:  Song LB(宋立波);  Liu C(刘昶);  Zhu J(朱军);  Shi HB(史海波)
Adobe PDF(345Kb)  |  Favorite  |  View/Download:35/3  |  Submit date:2018/10/08
Traveling Salesman Problem  Eda, Hybrid Distribution Estimation  Extreme Optimization  Probability Model  Tsplib  
一种并行批加工设备优化调度方法 专利
专利类型: 发明授权, 专利号: CN105320105B, 公开日期: 2016-02-10, 授权日期: 2017-09-29
Inventors:  刘昶;  李冬;  严学军;  虞国良;  刘斌;  郭敏;  梁炜
Adobe PDF(781Kb)  |  Favorite  |  View/Download:45/3  |  Submit date:2017/10/19
一种并行批加工设备优化调度方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN105320105A, 公开日期: 2016-02-10, 授权日期: 2017-09-29
Inventors:  刘昶;  李冬;  严学军;  虞国良;  刘斌;  郭敏;  梁炜
View  |  Adobe PDF(2380Kb)  |  Favorite  |  View/Download:153/34  |  Submit date:2016/03/30
可视化多数据库ETL集成方法和系统 专利
专利类型: 发明授权, 专利号: CN104915341B, 公开日期: 2015-09-16, 授权日期: 2018-06-26
Inventors:  王巍;  宋宏;  吕希胜;  刘昶;  原文斌;  姚丽丽
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可视化多数据库ETL集成方法和系统 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN104915341A, 公开日期: 2015-09-16, 授权日期: 2018-06-26
Inventors:  王巍;  宋宏;  吕希胜;  刘昶;  原文斌;  姚丽丽
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基于作业区域的半导体封装线LOT多规则调度方法 专利
专利类型: 发明授权, 专利号: CN104576441B, 公开日期: 2015-04-29, 授权日期: 2017-07-07
Inventors:  史海波;  韩忠华;  刘昶;  原文斌;  姚丽丽
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基于作业区域的半导体封装线LOT多规则调度方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN104576441A, 公开日期: 2015-04-29, 授权日期: 2017-07-07
Inventors:  史海波;  韩忠华;  刘昶;  原文斌;  姚丽丽
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半导体封装测试生产线瓶颈检测的一种方法 期刊论文
电子器件, 2015, 卷号: 38, 期号: 1, 页码: 44-48
Authors:  张国辉;  刘昶;  姚丽丽;  史海波
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半导体封装测试  生产瓶颈  瓶颈检测  识别指标