SIA OpenIR

Browse/Search Results:  1-10 of 19 Help

Selected(0)Clear Items/Page:    Sort:
一种水下接驳盒冗余控制系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN209231730U, 公开日期: 2019-08-09, 授权日期: 2019-08-09
Inventors:  陈国才;  李遥;  华波;  张欢;  韦佳利;  王萌;  高菲;  颜晗;  徐皑冬;  刘明哲;  王志平;  王晨曦;  闫炳均
View  |  Adobe PDF(598Kb)  |  Favorite  |  View/Download:2/1  |  Submit date:2019/09/10
一种水下接驳盒375V直流电源监控装置 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN109524952A, 公开日期: 2019-03-26,
Inventors:  李遥;  华波;  张欢;  韦佳利;  王萌;  陈国才;  高菲;  颜晗;  徐皑冬;  刘明哲;  王志平;  王晨曦;  闫炳均
View  |  Adobe PDF(469Kb)  |  Favorite  |  View/Download:44/9  |  Submit date:2019/03/30
可视化多数据库ETL集成方法和系统 专利
专利类型: 发明授权, 专利号: CN104915341B, 公开日期: 2015-09-16, 授权日期: 2018-06-26
Inventors:  王巍;  宋宏;  吕希胜;  刘昶;  原文斌;  姚丽丽
View  |  Adobe PDF(575Kb)  |  Favorite  |  View/Download:49/12  |  Submit date:2018/08/04
可视化多数据库ETL集成方法和系统 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN104915341A, 公开日期: 2015-09-16, 授权日期: 2018-06-26
Inventors:  王巍;  宋宏;  吕希胜;  刘昶;  原文斌;  姚丽丽
View  |  Adobe PDF(1060Kb)  |  Favorite  |  View/Download:253/80  |  Submit date:2015/10/19
基于作业区域的半导体封装线LOT多规则调度方法 专利
专利类型: 发明授权, 专利号: CN104576441B, 公开日期: 2015-04-29, 授权日期: 2017-07-07
Inventors:  史海波;  韩忠华;  刘昶;  原文斌;  姚丽丽
View  |  Adobe PDF(931Kb)  |  Favorite  |  View/Download:76/13  |  Submit date:2017/07/13
基于作业区域的半导体封装线LOT多规则调度方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN104576441A, 公开日期: 2015-04-29, 授权日期: 2017-07-07
Inventors:  史海波;  韩忠华;  刘昶;  原文斌;  姚丽丽
View  |  Adobe PDF(3161Kb)  |  Favorite  |  View/Download:209/48  |  Submit date:2015/06/30
半导体封装测试生产线瓶颈检测的一种方法 期刊论文
电子器件, 2015, 卷号: 38, 期号: 1, 页码: 44-48
Authors:  张国辉;  刘昶;  姚丽丽;  史海波
View  |  Adobe PDF(433Kb)  |  Favorite  |  View/Download:170/51  |  Submit date:2015/03/17
半导体封装测试  生产瓶颈  瓶颈检测  识别指标  
半导体封装测试生产线调度方法研究 学位论文
博士, 沈阳: 中国科学院沈阳自动化研究所, 2014
Authors:  姚丽丽
Adobe PDF(13296Kb)  |  Favorite  |  View/Download:354/20  |  Submit date:2014/07/18
半导体封装测试  生产调度  投料控制  静态调度  重调度  
基于K-modes聚类的半导体封装测试粗日投料控制 期刊论文
计算机集成制造系统, 2014, 卷号: 20, 期号: 7, 页码: 1743-1750
Authors:  姚丽丽;  史海波;  刘昶
View  |  Adobe PDF(328Kb)  |  Favorite  |  View/Download:154/42  |  Submit date:2014/11/03
半导体封装测试  粗日投料控制策略  改机代价  K-modes聚类算法  
半导体封装测试生产线排产研究 期刊论文
自动化学报, 2014, 卷号: 40, 期号: 5, 页码: 892-900
Authors:  姚丽丽;  史海波;  刘昶
View  |  Adobe PDF(1012Kb)  |  Favorite  |  View/Download:314/50  |  Submit date:2014/08/10
半导体封装测试  产能限定混线车间  启发式算法  正序排产